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Sistemas de medición : Principios y aplicaciones / John P. Bentley
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: México : Ciar editorial continental, 2000.Edición: 2 # reimpDescripción: 572 pISBN: - 9682612217
- 21 530.81 B468
| Imagen de cubierta | Tipo de ítem | Biblioteca actual | Biblioteca de origen | Colección | Ubicación en estantería | Signatura topográfica | Materiales especificados | Info Vol | URL | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Prioridad de la cola de reserva de ejemplar | Reservas para cursos | |
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Libro
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Biblioteca Central Fondo General | Colección General | 530.81 B468 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | USAP | Ej. 1 | Disponible (NULL) | 02399 |
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